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双光梳绝对测距仪

MicronWay

双光梳绝对测距仪

MicronWay 是一款高精度绝对测距仪，能够实现百米级量程、微米级精度、千赫兹级测量速度的绝对测距，测量结果可溯源至原子钟频率基准。MicronWay 实现光频梳光源、测距光路、信号采集处理模块全链条自主开发与集成，并提供定制化参数设计、工装设计与技术服务，满足科学研究、工业现场的多样化需求。
  • MicronWay双光梳绝对测距仪.png
  • 测距仪大.png
产 品 特 点

百米级测量范围，可拓展

绝对测距，支持断光续接

量值可溯源至频率基准

全量程微米级精度

千赫兹级测量频率

核 心 指 标

技术指标

典型值

测距范围

Measuring Range

0 m 至 200 m（可拓展）

测距误差

Ranging Error

± (0.5 μm + 0.2 × 10-6L)

重复性

Repeatability

<10 μm @(1 kHz，200 m)

测量频率

Measuring Frequency

1 kHz

额定功率

Power Consumption

<40 W

外观尺寸

Dimensions

210 mm×157 mm×80 mm（测距仪主机）

220 mm×172 mm×55 mm（光源模块）

质量

Mass

<5 kg

*选配空气传感器，支持空气折射率修正，温度+0.2℃、相对湿度± 10%、气压± 0.1kPa