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多通道双光梳测距仪

MicronWay-M

多通道双光梳测距仪

MicronWay-M 是基于双光梳测距原理开发的多通道测距仪，继承了双光梳测距技术大量程、高精度、高测量速度、绝对测距、量值可溯源的优势。在此基础上，产品采用探头 + 主机分体式设计，最高支持20路并行测距，探头通过光纤灵活连接，支持分布式部署。特别适用于机床多轴校准、大尺寸零件变形监测、大口径镜面拼接等领域。
产 品 特 点

支持20组探头并行测量

测量点位灵活排布

多种探头形式，适应不同场景

环境稳定性高

继承双光梳测距优势

核 心 指 标

技术指标

典型值

测距范围

Measuring Range

0 m 至 200 m（可拓展）

测距误差

Ranging Error

± (0.5 μm + 0.2 × 10-6L)

重复性

Repeatability

<15 μm @(1 kHz，200 m)

测量频率

Measuring Frequency

1 kHz

额定功率

Power Consumption

< 10 W/通道

外观尺寸

Dimensions

3通道主机：302 mm×240 mm×96 mm（通道增加主机尺寸需增大）

探头：30 mm×62 mm×32 mm（根据使用场景，尺寸略有差异）

质量

Mass

< 10 kg

*选配空气传感器，支持空气折射率修正，温度+0.2℃、相对湿度± 10%、气压± 0.1kPa